Основной контент книги Методы исследования материалов и структур в электронике. Рентгеновская дифракционная микроскопия
Tekst PDF
Raamatu kestus 94 lehekülge
2006 aasta
Методы исследования материалов и структур в электронике. Рентгеновская дифракционная микроскопия
€4,34
Raamatust
В курсе лекций изложены основы динамической теории, геометрические аспекты формирования изображений и основные положения дифракционной теории формирования контраста на дефектах в разных схемах дифракции: схема отражения по Брэггу и Лауэ. Приведен качественный анализ характера контраста на дефектах различного типа. Для более полного усвоения материала приводится большой объем иллюстраций.
Žanrid ja sildid
Logi sisse, et hinnata raamatut ja jätta arvustus
Raamat Владимира Бублика, Андрея Мильвидского «Методы исследования материалов и структур в электронике. Рентгеновская дифракционная микроскопия» — loe veebis. Jäta kommentaare ja arvustusi, hääleta lemmikute poolt.
Vanusepiirang:
0+Ilmumiskuupäev Litres'is:
28 märts 2018Kirjutamise kuupäev:
2006Objętość:
94 lk Üldsuurus:
8.8 МБLehekülgede koguarv:
94Õiguste omanik:
МИСиС
