Читайте только на Литрес

Raamatut ei saa failina alla laadida, kuid seda saab lugeda meie rakenduses või veebis.

Основной контент книги Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов
Tekst PDF

Maht 43 lehekülge

2013 aasta

0+

Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов

Читайте только на Литрес

Raamatut ei saa failina alla laadida, kuid seda saab lugeda meie rakenduses või veebis.

€1,26

Raamatust

В лабораторном практикуме излагаются теоретические основы технологических процессов роста полупроводниковых материалов и методы контроля их электрофизических и структурных параметров. Материал практикума соответствует учебному плану курса «Основы технологии электронной компонентной базы».

Žanrid ja sildid

Logi sisse, et hinnata raamatut ja jätta arvustus
Raamat Дмитрия Крутогина, Олега Рабиновича «Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов» — loe veebis. Jäta kommentaare ja arvustusi, hääleta lemmikute poolt.
Vanusepiirang:
0+
Ilmumiskuupäev Litres'is:
29 märts 2018
Kirjutamise kuupäev:
2013
Objętość:
43 lk
Üldsuurus:
748 КБ
Lehekülgede koguarv:
43
Õiguste omanik:
МИСиС