Основной контент книги Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов
Tekst PDF
Maht 43 lehekülge
2013 aasta
Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов
€1,32
Raamatust
В лабораторном практикуме излагаются теоретические основы технологических процессов роста полупроводниковых материалов и методы контроля их электрофизических и структурных параметров. Материал практикума соответствует учебному плану курса «Основы технологии электронной компонентной базы».
Žanrid ja sildid
Logi sisse, et hinnata raamatut ja jätta arvustus
Raamat Дмитрия Крутогина, Олега Рабиновича «Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов» — loe veebis. Jäta kommentaare ja arvustusi, hääleta lemmikute poolt.
Vanusepiirang:
0+Ilmumiskuupäev Litres'is:
29 märts 2018Kirjutamise kuupäev:
2013Objętość:
43 lk Üldsuurus:
748 КБLehekülgede koguarv:
43Õiguste omanik:
МИСиС
