Читайте только на Литрес

Raamatut ei saa failina alla laadida, kuid seda saab lugeda meie rakenduses või veebis.

Основной контент книги Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов

Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов

Raamatu kestus 43 lehekülge

2013 aasta

Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов

autorid

Читайте только на Литрес

Raamatut ei saa failina alla laadida, kuid seda saab lugeda meie rakenduses või veebis.

€1,29

Raamatust

В лабораторном практикуме излагаются теоретические основы технологических процессов роста полупроводниковых материалов и методы контроля их электрофизических и структурных параметров. Материал практикума соответствует учебному плану курса «Основы технологии электронной компонентной базы».

Žanrid ja sildid

MaterjaliteadusTöötoad

Logi sisse, et hinnata raamatut ja jätta arvustus

Raamat Дмитрия Крутогина, Олега Рабиновича «Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов» — loe veebis. Jäta kommentaare ja arvustusi, hääleta lemmikute poolt.

Vanusepiirang:

Ilmumiskuupäev Litres'is:

29 märts 2018

Kirjutamise kuupäev:

2013

Objętość:

43 lk

Üldsuurus:

748 КБ

Lehekülgede koguarv:

Õiguste omanik:

МИСиС