Читайте только на Литрес

Raamatut ei saa failina alla laadida, kuid seda saab lugeda meie rakenduses või veebis.

Основной контент книги Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов
Tekst PDF

Maht 43 lehekülge

2013 aasta

0+

Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов

Читайте только на Литрес

Raamatut ei saa failina alla laadida, kuid seda saab lugeda meie rakenduses või veebis.

€1,31

Raamatust

В лабораторном практикуме излагаются теоретические основы технологических процессов роста полупроводниковых материалов и методы контроля их электрофизических и структурных параметров. Материал практикума соответствует учебному плану курса «Основы технологии электронной компонентной базы».

Žanrid ja sildid

Logi sisse, et hinnata raamatut ja jätta arvustus
Raamat Дмитрия Крутогина, Олега Рабиновича «Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов» — loe veebis. Jäta kommentaare ja arvustusi, hääleta lemmikute poolt.
Vanusepiirang:
0+
Ilmumiskuupäev Litres'is:
29 märts 2018
Kirjutamise kuupäev:
2013
Objętość:
43 lk
Üldsuurus:
748 КБ
Lehekülgede koguarv:
43
Õiguste omanik:
МИСиС
Audio
Средний рейтинг 4,1 на основе 1093 оценок
Audio
Средний рейтинг 4,6 на основе 1122 оценок
Tekst, helivorming on saadaval
Средний рейтинг 4,7 на основе 379 оценок
Tekst
Средний рейтинг 4,9 на основе 1599 оценок
Tekst, helivorming on saadaval
Средний рейтинг 4 на основе 139 оценок
Audio
Средний рейтинг 4,8 на основе 428 оценок
Audio
Средний рейтинг 4,6 на основе 167 оценок
Audio
Средний рейтинг 4,8 на основе 5306 оценок
Tekst
Средний рейтинг 4,8 на основе 441 оценок
Tekst
Средний рейтинг 5 на основе 33 оценок
Tekst PDF
Средний рейтинг 0 на основе 0 оценок
Tekst PDF
Средний рейтинг 4 на основе 1 оценок