Raamatut ei saa failina alla laadida, kuid seda saab lugeda meie rakenduses või veebis.
Maht 343 lehekülge
2024 aasta
0+
Дифракционный структурный анализ 3-е изд., пер. и доп. Учебное пособие для СПО
Raamatut ei saa failina alla laadida, kuid seda saab lugeda meie rakenduses või veebis.
Raamatust
В курсе рассмотрены физические основы кристаллографии, основы теории дифракции на трехмерной решетке (подход Лауэ), методы получения рентгеновского излучения и его основные свойства, основные направления структурного анализа, физические основы динамической теории рассеяния, интегральные методы анализа формы дифракционной линии, методы рентгеновской топографии, рассеяние под малыми углами. Соответствует актуальным требованиям федерального государственного образовательного стандарта среднего профессионального образования и профессиональным требованиям. Для студентов среднего профессионального образования.
