Lugege ainult LitRes'is

Raamatut ei saa failina alla laadida, kuid seda saab lugeda meie rakenduses või veebis.

Основной контент книги Optical Imaging and Metrology. Advanced Technologies
Tekst PDF

Maht 506 lehekülgi

0+

Optical Imaging and Metrology. Advanced Technologies

Lugege ainult LitRes'is

Raamatut ei saa failina alla laadida, kuid seda saab lugeda meie rakenduses või veebis.

€178,22

Raamatust

A comprehensive review of the state of the art and advances in the field, while also outlining the future potential and development trends of optical imaging and optical metrology, an area of fast growth with numerous applications in nanotechnology and nanophysics. Written by the world's leading experts in the field, it fills the gap in the current literature by bridging the fields of optical imaging and metrology, and is the only up-to-date resource in terms of fundamental knowledge, basic concepts, methodologies, applications, and development trends.

Logi sisse, et hinnata raamatut ja jätta arvustus
Raamat «Optical Imaging and Metrology. Advanced Technologies» — loe veebis. Jäta kommentaare ja arvustusi, hääleta lemmikute poolt.
Vanusepiirang:
0+
Ilmumiskuupäev Litres'is:
08 juuni 2018
Objętość:
506 lk
ISBN:
9783527648474
Üldsuurus:
9.6 МБ
Lehekülgede koguarv:
506
Õiguste omanik:
John Wiley & Sons Limited
Tekst
Keskmine hinnang 4,3, põhineb 294 hinnangul
Audio
Keskmine hinnang 4,7, põhineb 1026 hinnangul
Audio
Keskmine hinnang 4,9, põhineb 125 hinnangul
Audio
Keskmine hinnang 4,5, põhineb 241 hinnangul
Audio
Keskmine hinnang 4,6, põhineb 542 hinnangul
Tekst
Keskmine hinnang 4,9, põhineb 367 hinnangul
Tekst
Keskmine hinnang 4,9, põhineb 493 hinnangul
Tekst, helivorming on saadaval
Keskmine hinnang 4,7, põhineb 558 hinnangul
Tekst PDF
Keskmine hinnang 0, põhineb 0 hinnangul