Основной контент книги Оптимизация тестирования сложных цифровых устройств
Tekst PDF
Raamatu kestus 6 lehekülge
2014 aasta
Оптимизация тестирования сложных цифровых устройств
Kuulub sarja «Прикладная информатика. Научные статьи»
€1,06
Raamatust
В статье изложены основные принципы объединения отдельных тестовых проверок модулей, составляющих цифровое устройство, в единую тест-программу. Объединение проверок проводится при неполной информации относительно реакций неисправного устройства. Формулируются свойства оптимально упорядоченной последовательности проверок в тесте. Предлагаются эвристические алгоритмы упорядочения проверок.
Kuulub sarja "Прикладная информатика. Научные статьи"
Logi sisse, et hinnata raamatut ja jätta arvustus
Raamat И. О. Атовмяна, В. Б. Шувалова jt «Оптимизация тестирования сложных цифровых устройств» — laadi alla pdf formaadis või loe veebis. Jäta kommentaare ja arvustusi, hääleta lemmikute poolt.
