Основной контент книги Оптимизация тестирования сложных цифровых устройств
Tekst PDF
Maht 6 lehekülge
2014 aasta
Оптимизация тестирования сложных цифровых устройств
Kuulub sarja «Прикладная информатика. Научные статьи»
€1,05
Raamatust
В статье изложены основные принципы объединения отдельных тестовых проверок модулей, составляющих цифровое устройство, в единую тест-программу. Объединение проверок проводится при неполной информации относительно реакций неисправного устройства. Формулируются свойства оптимально упорядоченной последовательности проверок в тесте. Предлагаются эвристические алгоритмы упорядочения проверок.
Logi sisse, et hinnata raamatut ja jätta arvustus
Raamat И. О. Атовмяна, В. Б. Шувалова jt «Оптимизация тестирования сложных цифровых устройств» — laadi alla pdf formaadis või loe veebis. Jäta kommentaare ja arvustusi, hääleta lemmikute poolt.
