Lugege ainult LitRes'is

Raamatut ei saa failina alla laadida, kuid seda saab lugeda meie rakenduses või veebis.

Основной контент книги Технологии многоуровневой металлизации интегральных микросхем
Технологии многоуровневой металлизации интегральных микросхем
ТекстtekstPDF

Maht 132 leheküljed

2022 aasta

0+

Технологии многоуровневой металлизации интегральных микросхем

Учебное пособие
Lugege ainult LitRes'is

Raamatut ei saa failina alla laadida, kuid seda saab lugeda meie rakenduses või veebis.

€1,71

Raamatust

Рассмотрена совокупность вопросов, связанных с созданием многоуровневых систем металлизации интегральных микросхем по технологическим маршрутам, обобщенно называемым Back-End-Of-Lme (BEOL). Охарактеризованы проблемы и решения создания проводящих и металлических тонких пленок, пленок диэлектрических материалов, проблемы и решения по планаризации поверхности интегральных микросхем. Рассмотрены вопросы получения конформных тонкопленочных покрытий на усложняющихся рельефах интегральных микросхем.

Может быть рекомендовано для обучения бакалавров и магистрантов по направлениям 11.03.04 и 11.04.04 «Электроника и наноэлектроника», 28.03.01 и 28.04.01 «Нанотехнологии и микросистемная техника» в рамках семинаров по специальностям и дисциплинам, связанным с преподаванием физико-химических основ технологических процессов изделий микроэлектроники, микросистемной техники, наноэлектроники, а также для магистрантов и аспирантов по специальности 11.06.01 «Электроника, радиотехника и системы связи», технологов производства ИМС, исследователей в области нанотехнологий.

Jätke arvustus

Logi sisse, et hinnata raamatut ja jätta arvustus
Raamat В. Ю. Васильева «Технологии многоуровневой металлизации интегральных микросхем» — loe veebis. Jäta kommentaare ja arvustusi, hääleta lemmikute poolt.
Vanusepiirang:
0+
Ilmumiskuupäev Litres'is:
06 detsember 2022
Kirjutamise kuupäev:
2022
Objętość:
132 lk
ISBN:
978-5-7782-4726-0
Üldsuurus:
17 МБ
Lehekülgede koguarv:
132

Selle raamatuga loetakse

Autori teised raamatud