Raamatut ei saa failina alla laadida, kuid seda saab lugeda meie rakenduses või veebis.
Maht 85 lehekülge
2016 aasta
0+
Дифракционные методы изучения материалов и приборных структур. Рентгеновская рефлектометрия
Raamatut ei saa failina alla laadida, kuid seda saab lugeda meie rakenduses või veebis.
Raamatust
Кратко изложены теоретические основы метода рентгеновской рефлектометрии. Содержание пособия соответствует лекционному курсу «Дифракционные методы изучения поверхности и приборных структур», читаемому по направлению подготовки магистров 22.04.01 «Материаловедение и технологии материалов» по программе «Материаловедение функциональных материалов наноэлектроники». Необходимость издания пособия определяется тем, что по указанной тематике учебная литература отсутствует. Предназначено для магистров, обучающихся по направлению 22.04.01 «Материаловедение и технологии материалов» по программе «Материаловедение функциональных материалов наноэлектроники».