Основной контент книги Анализ процессов в полупроводниковых устройствах. Часть 5
Tekst PDF
Maht 79 lehekülgi
Анализ процессов в полупроводниковых устройствах. Часть 5
€1,20
Raamatust
В четвертой части учебного пособия подробно изложена физика процессов, происходящих в полевых транзисторах с барьером Шоттки на арсениде галлия, наиболее быстродействующих и широко применяемых в СВЧ-диапазоне. Рассмотрена электрофизическая модель на данный тип транзисторов и приведены практические результаты, доказывающие правомерность такой модели. Данная часть пособия полезна студентам, специализирующимся в проектировании быстродействующих электронных средств по твердотельной технологии.
Žanrid ja sildid
Logi sisse, et hinnata raamatut ja jätta arvustus
Raamat Юрия Ракова, Вячеслава Данилова «Анализ процессов в полупроводниковых устройствах. Часть 5» — loe veebis. Jäta kommentaare ja arvustusi, hääleta lemmikute poolt.
Vanusepiirang:
0+Ilmumiskuupäev Litres'is:
24 aprill 2018Objętość:
79 lk ISBN:
978-5-7782-1618-1Üldsuurus:
2.2 МБLehekülgede koguarv:
79Õiguste omanik:
Новосибирский государственный технический университет