Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение
PDF- Lugemine ainult LitRes “Loe!”
- Maht: 601 lk.
- Žanr: Välisriigi õppekirjanduse, Materjaliteadus, Monograafiad, Tehniline kirjandus
В книге под редакцией известных ученых собраны статьи и обзоры видных специалистов в области нанотехнологий, посвященные растровой электронной микроскопии (РЭМ). С помощью РЭМ можно изучать свойства наночастиц, нанопроволок, нанотрубок, трехмерных наноструктур, квантовых точек, магнитных наноматериалов, фотонных кристаллов и биологических наноструктур.
Рассмотрены различные типы РЭМ, включая просвечивающие микроскопы с высоким разрешением, рентгеновский микроанализ, новейшие методы получения изображения посредством обратно рассеянных электронов, а также методы электронной криомикроскопии для исследования биообъектов.
Книга предназначена для широкого круга практических специалистов в сфере нанотехнологий, но будет полезна также студентам вузов и разработчикам новых типов растровых электронных микроскопов.
- Vanusepiirang:
- 12+
- Lisatud LitResi:
- 12 juuni 2014
- Tõlke kuupäev:
- 2021
- Kirjutamiskuupäev:
- 2006
- Maht:
- 601 lk.
- ISBN:
- 978-5-00101-142-2
- Kogusuurus:
- 23 MB
- Lehekülgi kokku:
- 601
- Lehekülje mõõdud:
145 x 225 мм
- Tõlkija:
К. И. Домкин ,С. А. Иванов
- Copyright:
- Лаборатория знаний
Оставьте отзыв
Отзывы